SIFT algoritma deteksi fitur telah ditemukan dan diterbitkan oleh David Lowe di University of British Columbia.
Algoritma memberikan kemampuan untuk mengidentifikasi titik-titik fitur kunci dalam
gambar sewenang-wenang. Lebih lanjut ekstrak informasi yang sangat berbeda untuk setiap titik tersebut dan memungkinkan untuk mengkarakterisasi titik invarian ke sejumlah modifikasi gambar. Hal ini invarian untuk kontras / perubahan brightness, rotasi, skala dan sebagian invarian untuk jenis lain dari transformasi. Algoritma dapat fleksibel digunakan untuk membuat input data untuk pencocokan gambar, identifikasi objek dan algoritma terkait visi komputer lainnya.
Penggunaan algoritma SIFT untuk penciptaan panorama otomatis telah dikembangkan oleh Matthew Brown dan David Lowe dalam makalah mereka "Mengakui Panorama".
Apa yang Baru di Release ini:
Komentar tidak ditemukan